Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует ре
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Этот товар закончился
Купил 1 человек
Описание и характеристики
- Тип обложки Твёрдый переплёт
- Кол-во стр. 208
- Вес 388 г
- Год издания 2009
- Издательство Техносфера
- Серия Мир физики и техники
- Размер 1.6x15.3x21.6
- ID товара 2201339
- ISBN 978-5-94836-200-7