Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых на
Нанометрология: монография
Этот товар закончился
Описание и характеристики
- Тип обложки Мягкий переплёт
- Количество страниц 416
- Вес, г 540
- Размер 2.2x14.5x21.5
- Издательство Логос
- Год издания 2011
- ISBN 978-5-98704-494-0
- ID товара 2567830