За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов.
.В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе
Микроскопические исследования материалов (Мир материалов и технологий). Кларк Э. (Техносфера)
Этот товар закончился
Описание и характеристики
- Тип обложки Твёрдый переплёт
- Количество страниц 376
- Вес, г 648
- Размер 2.2x17.6x24.7
- Издательство Техносфера
- Серия Мир материалов и технологий
- Год издания 2007
- ISBN 978-5-94-836121-5, 978-5-94836-121-5
- ID товара 2118753