Книга последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений. Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.

Инженерные основы измерений нанометровой точности,пер. с англ. Учебное пособие

Этот товар закончился
Нет оценок
Купили 3 человека

Описание и характеристики

Книга последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений. Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
  • Год издания 2012
  • Количество страниц 400
  • Издательство Интеллект групп
  • Автор
  • Иллюстратор Биричев С. Ю.
  • Переводчик Заблоцкий А. В.
  • Вес 519
  • Размер 2.2x14.8x21.6
  • ID товара 2404335
  • ISBN 978-5-91559-119-5

Отзывы

Оставьте отзыв и получите бонусы

Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.

Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.

Книга «Инженерные основы измерений нанометровой точности,пер. с англ. Учебное пособие» есть в наличии в интернет-магазине «Читай-город» по привлекательной цене. Если вы находитесь в Москве, Санкт-Петербурге, Нижнем Новгороде, Казани, Екатеринбурге, Ростове-на-Дону или любом другом регионе России, вы можете оформить заказ на книгу Ричард Лич «Инженерные основы измерений нанометровой точности,пер. с англ. Учебное пособие» и выбрать удобный способ его получения: самовывоз, доставка курьером или отправка почтой. Чтобы покупать книги вам было ещё приятнее, мы регулярно проводим акции и конкурсы.