Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического г
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Купили 4 человека
Описание и характеристики
Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
- Тип обложки Твёрдый переплёт
- Кол-во стр. 392
- Вес 638 г
- Год издания 2020
- Издательство Научный мир
- Автор Терри Л. Алфорд
- Переводчик Образцов А.. Долганов М.
- Размер 2x17x24.5
- ID товара 2780676
- ISBN 978-5-91522-225-9