Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии (Мир наук о земле). Рид С. (Техносфера)
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии (Мир наук о земле). Рид С. (Техносфера)
В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа.
.
.Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы
- Переплёт Твёрдый
- Кол-во стр. 232
- Вес 500 г
- Год издания 2008
Отзывы
Описание и характеристики
- Переплёт Твёрдый
- Кол-во стр. 232
- Вес 500 г
- Год издания 2008
- Издательство
- Серия
- Автор
- ID товара 2165229
- ISBN 978-5-94-836177-2, 978-5-94836-177-2