Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для СПО
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены ко
- Переплёт Твёрдый
- Кол-во стр. 272
- Вес 460 г
- Год издания 2019
Отзывы
Описание и характеристики
- Переплёт Твёрдый
- Кол-во стр. 272
- Вес 460 г
- Год издания 2019
- Издательство
- Серия
- Размер 1.5x16.2x24.5
- ID товара 2763601
- ISBN 978-5-534-11822-3
